特許ランキング - 出願人詳細情報 -

アンリツ株式会社

※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第395位　104件（2011年：第315位　126件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第277位　132件（2011年：第486位　66件）

（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-163840	光変調器	2012年 8月30日
特開 2012-163444	無線端末送受信性能測定方法および装置	2012年 8月30日
特開 2012-160860	波形発生器及びそれを備えた信号発生装置並びに波形発生方法及び信号発生方法	2012年 8月23日
特開 2012-155046	光変調器	2012年 8月16日
特開 2012-156947	高周波接続配線基板、およびこれを備えた光変調器モジュール	2012年 8月16日
特開 2012-156864	磁気同調デバイス駆動回路及びそれを備えた測定装置並びに磁気同調デバイス駆動方法	2012年 8月16日
特開 2012-151405	コイルおよびその製造方法	2012年 8月 9日
特開 2012-151808	判定帰還型自動等化器評価装置および判定帰還型自動等化器評価方法	2012年 8月 9日
特開 2012-151746	電気短パルス発生装置およびそれを用いた光パルス発生装置	2012年 8月 9日
特開 2012-145696	光デバイス	2012年 8月 2日
特開 2012-145894	光変調器	2012年 8月 2日
特開 2012-141634	光変調器	2012年 7月26日
特開 2012-142671	移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法	2012年 7月26日
特開 2012-142902	パルスパターン発生装置及び該装置を用いた誤り率測定システム並びにパルスパターン発生方法	2012年 7月26日
特開 2012-142670	移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法	2012年 7月26日

104 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-163840 2012-163444 2012-160860 2012-155046 2012-156947 2012-156864 2012-151405 2012-151808 2012-151746 2012-145696 2012-145894 2012-141634 2012-142671 2012-142902 2012-142670

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数