アンリツ株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第417位 98件
（
2012年：第395位 104件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第255位 154件
（
2012年：第277位 132件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5133930 | 光変調器モジュール | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5131601 | 光変調信号発生装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5133776 | 電子部品の接続構造 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5132951 | ガスセル型原子発振器 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134404 | 周波数ずれ検出装置及びそれを用いたデジタル変調信号解析装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5129833 | 移動体通信端末試験システム及び移動体通信端末の試験方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5129832 | 干渉波電力測定装置及び干渉波電力測定方法並びにＳＩＲ測定装置及びＳＩＲ測定方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5124223 | 光チャープ特性測定装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124614 | 光素子パッケージおよび製造方法 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124382 | 光変調器 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124252 | 光信号発生装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5118601 | 光パルス試験器 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5122348 | ランダムエラー評価方法及びその評価装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5113102 | 光変調デバイス | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5115938 | 混信判定回路及び混信判定方法 | 2013年 1月 9日 |
154 件中 136-150 件を表示
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5133930 5131601 5133776 5132951 5134404 5129833 5129832 5124223 5124614 5124382 5124252 5118601 5122348 5113102 5115938
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