アンリツ株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第417位 98件
（
2012年：第395位 104件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第255位 154件
（
2012年：第277位 132件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5199628 | 光伝送試験装置 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5194067 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2013年 5月 8日 | |
| 特許 5189435 | 光パルス試験器 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5191143 | 半導体レーザ素子、半導体レーザモジュール、および半導体レーザモジュールを用いたラマン増幅器 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190027 | 半導体レーザモジュール，およびこれを備えたラマン増幅器 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5186474 | 測定装置及び周波数切替方法 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5186428 | 遅延測定装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5186546 | 光電変換回路 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5179615 | ＡＰＤ測定器の検査装置及び検査方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5179602 | 測定パラメータ入力制御装置及び方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5179122 | 光線路異常診断装置及び該装置の操作画面表示方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5180923 | 半導体レーザモジュール，およびこれを備えたラマン増幅器 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5180914 | 半導体レーザモジュール，およびこれを備えたラマン増幅器 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5171371 | 物理量測定システム | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5171241 | 物理量測定システム | 2013年 3月27日 |
154 件中 91-105 件を表示
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5199628 5194067 5189435 5191143 5190027 5186474 5186428 5186546 5179615 5179602 5179122 5180923 5180914 5171371 5171241
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