アンリツ株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第484位 72件
（
2013年：第417位 98件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第288位 134件
（2013年：第255位 154件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5461963 | デスキュー回路及びエラー測定装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5457480 | 移動体通信用試験装置及び試験方法 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5453379 | 電界強度測定装置および電界強度測定方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452644 | 測定装置及び測定方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453147 | テストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5450580 | デジタル変調信号発生装置およびデジタル変調信号発生方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5443517 | 光測定装置及び光測定装置の使用方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444290 | 帯域保証装置および帯域保証方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5443290 | 誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5442357 | ラマン光増幅特性評価装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5441236 | 光送受信モジュール、光パルス試験器及び光送受信モジュールの組立調整方法 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5442804 | ミリ波帯フィルタ | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5442702 | ミリ波帯用電波ハーフミラーおよびその透過率平坦化方法 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5433753 | 試験装置及び試験方法 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5432352 | パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 | 2014年 3月 5日 |
134 件中 91-105 件を表示
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5461963 5457480 5453379 5452644 5453147 5450580 5443517 5444290 5443290 5442357 5441236 5442804 5442702 5433753 5432352
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