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アンリツ株式会社

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  2014年 出願公開件数ランキング    第484位 72件 下降2013年:第417位 98件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第288位 134件 下降2013年:第255位 154件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5461963 デスキュー回路及びエラー測定装置 2014年 4月 2日
特許 5457480 移動体通信用試験装置及び試験方法 2014年 4月 2日
特許 5453379 電界強度測定装置および電界強度測定方法 2014年 3月26日
特許 5452644 測定装置及び測定方法 2014年 3月26日
特許 5453147 テストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法 2014年 3月26日
特許 5450580 デジタル変調信号発生装置およびデジタル変調信号発生方法 2014年 3月26日
特許 5443517 光測定装置及び光測定装置の使用方法 2014年 3月19日
特許 5444290 帯域保証装置および帯域保証方法 2014年 3月19日
特許 5443290 誤り率測定装置および誤り率測定方法 2014年 3月19日
特許 5442357 ラマン光増幅特性評価装置 2014年 3月12日
特許 5441236 光送受信モジュール、光パルス試験器及び光送受信モジュールの組立調整方法 2014年 3月12日
特許 5442804 ミリ波帯フィルタ 2014年 3月12日
特許 5442702 ミリ波帯用電波ハーフミラーおよびその透過率平坦化方法 2014年 3月12日
特許 5433753 試験装置及び試験方法 2014年 3月 5日
特許 5432352 パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 2014年 3月 5日

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5461963 5457480 5453379 5452644 5453147 5450580 5443517 5444290 5443290 5442357 5441236 5442804 5442702 5433753 5432352

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