アンリツ株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第417位 98件
（
2012年：第395位 104件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第255位 154件
（
2012年：第277位 132件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5154585 | 誤り率測定装置及び方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5148581 | スペクトラムアナライザ | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148420 | 光ファイバ試験装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5145403 | 光変調器 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5145402 | 光変調器 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5150548 | 半導体レーザモジュール，およびこれを備えたラマン増幅器 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148398 | デマルチプレクサ | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5140717 | ジッタ付加装置およびジッタ付加方法 | 2013年 2月13日 | |
| 特許 5135410 | ＴＩＳ測定方法および装置 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5139787 | 光素子パッケージ | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5139550 | 移動体通信端末試験システム、基地局模擬装置、及び遅延時間測定方法 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5135446 | ＭＩＭＯ端末測定方法および測定システム | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5134026 | 誤り率測定装置及び方法 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5130262 | 光線路障害探索装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5129689 | 印刷はんだ検査装置、及び印刷はんだ検査方法 | 2013年 1月30日 |
154 件中 121-135 件を表示
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5154585 5148581 5148420 5145403 5145402 5150548 5148398 5140717 5135410 5139787 5139550 5135446 5134026 5130262 5129689
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