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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第76位 653件
(
2016年:第109位 389件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第71位 403件
(
2016年:第81位 373件)
(ランキング更新日:2025年10月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6171375 | 磁気軸受装置および真空ポンプ | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6171993 | 標線スタンプ装置および材料試験機 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172003 | 飛行時間型質量分析装置 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172041 | 材料試験機 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172050 | X線透視撮影装置 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172054 | 蛍光X線分析装置 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172247 | ガスクロマトグラフ | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6172260 | イオントラップ分析計及びイオントラップ質量分析方法 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6167552 | 酸素濃度計測装置及びそれに用いられるプログラム | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167920 | 分光光度計 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167934 | 質量分析装置 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167967 | 紫外線照射装置及びこれを備えた分析装置 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167969 | サンプリング部及びそれを備えたICP質量分析装置 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167983 | 超音波疲労試験機および超音波疲労試験方法 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6167985 | 分光センサ | 2017年 7月26日 |
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6171375 6171993 6172003 6172041 6172050 6172054 6172247 6172260 6167552 6167920 6167934 6167967 6167969 6167983 6167985
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