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旭化成エレクトロニクス株式会社
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（
2022年：第605位 49件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第587位 45件
（
2022年：第576位 46件）
（ランキング更新日：2025年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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旭化成エレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7402768 | 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム | 2023年12月21日 | |
| 特許 7399328 | 認証システム、及び認証サーバ | 2023年12月15日 | |
| 特許 7396845 | 逐次比較ＡＤ変換器 | 2023年12月12日 | |
| 特許 7386364 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム | 2023年11月24日 | |
| 特許 7381707 | 検出装置、方法、システム、算出装置、および算出方法 | 2023年11月15日 | |
| 特許 7378270 | デバイスおよびシステム | 2023年11月13日 | |
| 特許 7372047 | 不揮発性記憶素子 | 2023年10月31日 | |
| 特許 7370908 | 受発光装置及び劣化診断方法 | 2023年10月30日 | |
| 特許 7368081 | 光デバイス | 2023年10月24日 | |
| 特許 7367134 | 二酸化炭素濃度予測システム、二酸化炭素濃度予測方法および二酸化炭素濃度予測プログラム | 2023年10月23日 | |
| 特許 7365915 | 測定装置 | 2023年10月20日 | |
| 特許 7364435 | カメラモジュール | 2023年10月18日 | |
| 特許 7364485 | 磁場計測装置、磁場計測方法、および、磁場計測プログラム | 2023年10月18日 | |
| 特許 7364770 | 認証装置、認証方法、及びプログラム | 2023年10月18日 | |
| 特許 7362497 | 光学式濃度測定装置および光導波路 | 2023年10月17日 |
45 件中 1-15 件を表示
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7402768 7399328 7396845 7386364 7381707 7378270 7372047 7370908 7368081 7367134 7365915 7364435 7364485 7364770 7362497
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