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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第533位 63件
(2013年:第545位 70件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第568位 60件
(2013年:第591位 57件)
(ランキング更新日:2025年4月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5641646 | 滴定装置 | 2014年12月17日 | 共同出願 |
特許 5643864 | 放射線測定装置及び放射線測定プログラム | 2014年12月17日 | |
特許 5643497 | 散乱光を用いた粒子測定装置 | 2014年12月17日 | |
特許 5634061 | 電子冷却器 | 2014年12月 3日 | 共同出願 |
特許 5634763 | 蛍光X線分析装置及びコンピュータプログラム | 2014年12月 3日 | |
特許 5630894 | 粒子状物質計測装置 | 2014年11月26日 | |
特許 5628111 | 放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器 | 2014年11月19日 | |
特許 5627982 | 試料液計量装置 | 2014年11月19日 | |
特許 5623590 | 電子顕微鏡装置 | 2014年11月12日 | |
特許 5615659 | 触媒装置 | 2014年10月29日 | |
特許 5597673 | 車両性能試験システム | 2014年10月 1日 | |
特許 5600722 | 放射線検出器、放射線検出装置、及びX線分析装置 | 2014年10月 1日 | |
特許 5599429 | 排ガス分析システム | 2014年10月 1日 | |
特許 5593170 | 流体温度測定装置 | 2014年 9月17日 | |
特許 5588477 | 試験システム | 2014年 9月10日 |
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5641646 5643864 5643497 5634061 5634763 5630894 5628111 5627982 5623590 5615659 5597673 5600722 5599429 5593170 5588477
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4月4日(金) -
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4月11日(金) -
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