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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第579位 62件
(2016年:第721位 43件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第504位 50件
(2016年:第856位 27件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6249886 | 光学測定セル及び光学分析計 | 2017年12月20日 | |
特許 6240027 | 排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット | 2017年11月29日 | |
特許 6240416 | 粒子径分布測定装置 | 2017年11月29日 | |
特許 6235106 | 排ガス分析システム及び排ガス分析方法 | 2017年11月22日 | |
特許 6223041 | 液体計量装置及び水質分析装置 | 2017年11月 1日 | |
特許 6218449 | 粒子径分布測定装置 | 2017年10月25日 | |
特許 6218453 | 粒子径分布測定装置 | 2017年10月25日 | |
特許 6219223 | 比較電極 | 2017年10月25日 | |
特許 6219230 | 車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム | 2017年10月25日 | |
特許 6219282 | 増幅器及び放射線検出器 | 2017年10月25日 | |
特許 6215050 | 触媒評価装置 | 2017年10月18日 | |
特許 6216160 | 運行管理システム及び運行記録装置 | 2017年10月18日 | |
特許 6216585 | マルチイオンセンサ | 2017年10月18日 | |
特許 6216689 | 比較電極 | 2017年10月18日 | |
特許 6210927 | 電極装置 | 2017年10月11日 |
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6249886 6240027 6240416 6235106 6223041 6218449 6218453 6219223 6219230 6219282 6215050 6216160 6216585 6216689 6210927
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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