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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第1114位 21件
(2023年:第1549位 15件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第552位 46件
(2023年:第602位 43件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7602474 | 信号処理方法、学習モデル生成方法、信号処理装置、放射線検出装置及びコンピュータプログラム | 2024年12月18日 | |
特許 7602556 | ガス分析装置、ガス分析方法、ガス分析装置用プログラム | 2024年12月18日 | |
特許 7601861 | 測定セル及び当該測定セルを用いた遠心沈降式の粒径分布測定装置 | 2024年12月17日 | |
特許 7601887 | 元素分析装置、取付治具、及び、取付方法 | 2024年12月17日 | |
特許 7599431 | 粒子径分布測定装置、及び、粒子径分布測定方法 | 2024年12月13日 | |
特許 7593933 | 粒子群特性測定装置、粒子群特性測定方法、粒子群特性測定装置用プログラム、粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法 | 2024年12月 3日 | |
特許 7591572 | 放射温度計 | 2024年11月28日 | |
特許 7585113 | 試料分散装置及び試料分散方法 | 2024年11月18日 | |
特許 7585165 | データ管理装置、試験システム、データ管理プログラム、及びデータ管理方法 | 2024年11月18日 | |
特許 7581221 | 粒子分析装置及び粒子分析ユニット | 2024年11月12日 | |
特許 7577861 | マイクロチップ、検体検査装置および検体検査方法 | 2024年11月 5日 | |
特許 7577197 | 分析システム、分析システム用表示方法、及び、分析システム用プログラム | 2024年11月 1日 | |
特許 7573041 | 排ガス分析装置、排ガス分析方法及び排ガス分析装置用プログラム記憶媒体 | 2024年10月24日 | |
特許 7572378 | 分析装置管理システム、管理方法、管理プログラム及び管理装置 | 2024年10月23日 | |
特許 7571054 | 赤外線検出器及びガス分析計 | 2024年10月22日 |
51 件中 1-15 件を表示
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7602474 7602556 7601861 7601887 7599431 7593933 7591572 7585113 7585165 7581221 7577861 7577197 7573041 7572378 7571054
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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