アンリツ株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第247位 147件
（
2021年：第365位 99件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第204位 163件
（2021年：第346位 77件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7122426 | スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2022年 8月19日 | |
| 特許 7121098 | 測定装置、測定システム及び測定装置の制御方法 | 2022年 8月17日 | |
| 特許 7117340 | 測定システム及び測定方法 | 2022年 8月12日 | |
| 特許 7117409 | 伝送線結合構造 | 2022年 8月12日 | |
| 特許 7113869 | 伝送線路変換構造及び同軸型エンドランチコネクタ | 2022年 8月 5日 | |
| 特許 7111664 | 測定装置、通信端末測定システム、及び測定関連情報表示方法 | 2022年 8月 2日 | |
| 特許 7110165 | 通信端末測定システム及び測定関連情報表示方法 | 2022年 8月 1日 | |
| 特許 7109388 | 計量装置および計量値補正方法 | 2022年 7月29日 | |
| 特許 7109396 | 計量装置 | 2022年 7月29日 | |
| 特許 7108564 | Ｘ線検査装置 | 2022年 7月28日 | |
| 特許 7106597 | 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 | 2022年 7月26日 | |
| 特許 7104082 | 試験装置及び試験方法 | 2022年 7月20日 | |
| 特許 7102303 | Ｘ線検査装置及びＸ線発生器高さ調整方法 | 2022年 7月19日 | |
| 特許 7102450 | 誤り率測定システム及び誤り率測定方法 | 2022年 7月19日 | |
| 特許 7092611 | 物品検査装置 | 2022年 6月28日 |
163 件中 91-105 件を表示
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7122426 7121098 7117340 7117409 7113869 7111664 7110165 7109388 7109396 7108564 7106597 7104082 7102303 7102450 7092611
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