※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2022年 出願公開件数ランキング 第247位 147件
(2021年:第365位 99件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第204位 163件
(2021年:第346位 77件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7058626 | 信号試験装置とそのセルフテスト方法 | 2022年 4月22日 | |
特許 7058682 | 温度試験装置及び温度試験方法 | 2022年 4月22日 | |
特許 7058697 | 端末保持具、端末回転装置、及び移動端末試験装置 | 2022年 4月22日 | |
特許 7058308 | 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 | 2022年 4月21日 | |
特許 7054373 | 外観検査装置および外観検査方法 | 2022年 4月13日 | |
特許 7053558 | 通信端末測定システム、通信端末測定装置及び測定関連情報表示方法 | 2022年 4月12日 | |
特許 7046708 | X線検査装置 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046760 | 信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046857 | 導波管-伝送線路変換器 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046881 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046882 | 誤り率測定器及びエラー検索方法 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046883 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046993 | 誤り率測定システム及び誤り率測定方法 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7046994 | イメージ読み取り装置およびイメージ読み取り方法 | 2022年 4月 4日 | |
特許 7042166 | 物品検査装置、物品検査システム及びプログラム | 2022年 3月25日 |
163 件中 121-135 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7058626 7058682 7058697 7058308 7054373 7053558 7046708 7046760 7046857 7046881 7046882 7046883 7046993 7046994 7042166
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁:AI/DX時代に即した産業財産権制度について ~有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性~
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地