株式会社リガク
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第759位 41件
（
2011年：第1563位 15件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件
（
2011年：第903位 30件）
（ランキング更新日：2025年6月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5090714 | 検出値較正方法、Ｘ線ＣＴ装置、較正用ファントムおよび保持具 | 2012年12月 5日 | 共同出願 |
| 特許 5092052 | Ｘ線分析装置および方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5081556 | デバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのためのＸ線回折測定方法 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5076012 | 波長分散型蛍光Ｘ線分析装置 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5059520 | 試料乾燥装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5027694 | 全反射蛍光Ｘ線分析装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5024968 | Ｘ線及び熱分析装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5024973 | Ｘ線トポグラフィ装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5024965 | 磁性流体シール装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5013525 | Ｘ線回折測定方法及びＸ線回折装置 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 5010725 | 分析装置 | 2012年 8月29日 | |
| 特許 4994722 | 超小角Ｘ線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角Ｘ線散乱測定に基づく配向度の解析方法 | 2012年 8月 8日 | 共同出願 |
| 特許 4987498 | バイアス電圧制御回路およびこれを用いたＸ線発生装置 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4974391 | Ｘ線分光方法及びＸ線分光装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4971383 | Ｘ線回折方法及びＸ線回折装置 | 2012年 7月11日 |
32 件中 1-15 件を表示
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5090714 5092052 5081556 5076012 5059520 5027694 5024968 5024973 5024965 5013525 5010725 4994722 4987498 4974391 4971383
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