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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第759位 41件
(2011年:第1563位 15件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件
(2011年:第903位 30件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5090714 | 検出値較正方法、X線CT装置、較正用ファントムおよび保持具 | 2012年12月 5日 | 共同出願 |
特許 5092052 | X線分析装置および方法 | 2012年12月 5日 | |
特許 5081556 | デバイシェラー光学系を備えたX線回折測定装置とそのためのX線回折測定方法 | 2012年11月28日 | |
特許 5076012 | 波長分散型蛍光X線分析装置 | 2012年11月21日 | |
特許 5059520 | 試料乾燥装置 | 2012年10月24日 | |
特許 5027694 | 全反射蛍光X線分析装置 | 2012年 9月19日 | |
特許 5024968 | X線及び熱分析装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5024973 | X線トポグラフィ装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5024965 | 磁性流体シール装置 | 2012年 9月12日 | |
特許 5013525 | X線回折測定方法及びX線回折装置 | 2012年 8月29日 | |
特許 5010725 | 分析装置 | 2012年 8月29日 | |
特許 4994722 | 超小角X線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角X線散乱測定に基づく配向度の解析方法 | 2012年 8月 8日 | 共同出願 |
特許 4987498 | バイアス電圧制御回路およびこれを用いたX線発生装置 | 2012年 7月25日 | |
特許 4974391 | X線分光方法及びX線分光装置 | 2012年 7月11日 | |
特許 4971383 | X線回折方法及びX線回折装置 | 2012年 7月11日 |
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5090714 5092052 5081556 5076012 5059520 5027694 5024968 5024973 5024965 5013525 5010725 4994722 4987498 4974391 4971383
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