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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第983位 28件
（
2015年：第886位 32件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第928位 24件
（
2015年：第1728位 10件）
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6050566 | 試験測定機器 | 2016年12月21日 | |
| 特許 6043486 | 試験測定装置及び周波数偏位トリガ方法 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6043490 | 立体画像の位置決め及びカラー・バランス評価用表示生成方法及び立体映像信号分析用表示装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6043984 | グラウンド・スプリング、ＢＭＡコネクタ及び試験測定装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6034064 | デュアル・プロービング・チップ・システム | 2016年11月30日 | |
| 特許 6030297 | 試験測定機器及び視差測定方法 | 2016年11月24日 | |
| 特許 6014293 | ビデオ・テスト・パターン発生装置及び方法 | 2016年10月25日 | |
| 特許 6008554 | 試験測定装置 | 2016年10月19日 | |
| 特許 5998378 | 信号取込みプローブ用プロービング・チップ | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5995450 | 試験測定装置及び時間領域情報表示方法 | 2016年 9月21日 | |
| 特許 5979829 | 試験測定装置及び測定方法 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5979856 | イメージにじみ検出器 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5981700 | 試験測定機器及び方法 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5971886 | ボール・バンプ結合リボン・ワイヤ配線及び集積回路を基板に接続する方法 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5972589 | 可変シンボル間干渉発生装置及びデータ信号生成方法 | 2016年 8月17日 |
24 件中 1-15 件を表示
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6050566 6043486 6043490 6043984 6034064 6030297 6014293 6008554 5998378 5995450 5979829 5979856 5981700 5971886 5972589
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点（米国・欧州（EPC)・中国）～米国ならびに EPC （欧州特許条約）・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します～
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