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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第886位 32件
（
2014年：第647位 49件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1728位 10件
（2014年：第1068位 26件）
（ランキング更新日：2025年4月11日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許 5837324
|
密度トレース発生方法及び試験測定機器 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5817041
|
試験測定機器及び波形表示方法 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5817042
|
試験測定機器 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5786490
|
試験測定装置及び方法 | 2015年 9月30日 | |
| 特許 5750213
|
スペクトラム分析方法 | 2015年 7月15日 | |
| 特許 5732654
|
試験測定機器及び表示方法 | 2015年 6月10日 | |
| 特許 5725690
|
信号状態検出方法及び装置 | 2015年 5月27日 | |
| 特許 5699402
|
試験測定機器及び方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5666643
|
信号形式特定方法及びプログラム | 2015年 2月12日 | |
| 特許 5669290
|
試験及び測定機器並びに信号データ識別方法 | 2015年 2月12日 |
10 件中 1-10 件を表示
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5837324 5817041 5817042 5786490 5750213 5732654 5725690 5699402 5666643 5669290
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