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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第886位 32件 (2014年:第647位 49件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1728位 10件 (2014年:第1068位 26件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5837324 | 密度トレース発生方法及び試験測定機器 | 2015年12月24日 | |
特許 5817041 | 試験測定機器及び波形表示方法 | 2015年11月18日 | |
特許 5817042 | 試験測定機器 | 2015年11月18日 | |
特許 5786490 | 試験測定装置及び方法 | 2015年 9月30日 | |
特許 5750213 | スペクトラム分析方法 | 2015年 7月15日 | |
特許 5732654 | 試験測定機器及び表示方法 | 2015年 6月10日 | |
特許 5725690 | 信号状態検出方法及び装置 | 2015年 5月27日 | |
特許 5699402 | 試験測定機器及び方法 | 2015年 4月 8日 | |
特許 5666643 | 信号形式特定方法及びプログラム | 2015年 2月12日 | |
特許 5669290 | 試験及び測定機器並びに信号データ識別方法 | 2015年 2月12日 |
10 件中 1-10 件を表示
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5837324 5817041 5817042 5786490 5750213 5732654 5725690 5699402 5666643 5669290
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
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