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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7604101	試験測定装置及び無線バス信号捕捉方法	2024年12月23日
特許 7604119	試験測定装置及び被試験材料特性測定方法	2024年12月23日
特許 7604144	試験測定装置及び入力信号分析方法	2024年12月23日
特許 7568428	Ｓパラメータを求める方法及び試験測定システム	2024年10月16日
特許 7558642	ノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法	2024年10月 1日
特許 7534079	多層回路基板	2024年 8月14日
特許 7516019	時間インタリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及びそのための前置処理フィルタを校正する方法	2024年 7月16日
特許 7509365	試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法	2024年 7月 2日
特許 7504587	試験測定装置及び信号抽出方法	2024年 6月24日
特許 7504592	試験測定装置及び波形合成方法	2024年 6月24日
特許 7471240	試験測定装置及び試験測定装置の送信部	2024年 4月19日
特許 7427362	試験測定プローブ・カプラ及びその使用方法	2024年 2月 5日
特許 7426237	拡張現実に関連する試験測定装置、システム及び方法	2024年 2月 1日
特許 7425733	試験測定装置及び入力信号のジッタを求める方法	2024年 1月31日
特許 7420467	試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法	2024年 1月23日

16 件中 1-15 件を表示

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7604101 7604119 7604144 7568428 7558642 7534079 7516019 7509365 7504587 7504592 7471240 7427362 7426237 7425733 7420467

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