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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第678位 43件
（
2022年：第830位 32件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1732位 11件
（
2022年：第1445位 14件）
（ランキング更新日：2026年2月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7402597 | タッチスクリーンを有する試験測定プローブ | 2023年12月21日 | |
| 特許 7364580 | 試験測定装置のためのプロトコル・デザイナ及びプロトコル定義を生成、デバッグ及び展開する方法 | 2023年10月18日 | |
| 特許 7357600 | 試験測定プローブ・システム及びＡＣ成分及びＬＦ成分抽出方法 | 2023年10月 6日 | |
| 特許 7292826 | 試験測定システム、波形処理方法及びコンピュータ・プログラム | 2023年 6月19日 | |
| 特許 7291998 | 試験測定装置及びトリガ生成方法 | 2023年 6月16日 | |
| 特許 7292015 | アイソレーション装置及び方法 | 2023年 6月16日 | |
| 特許 7253878 | 試験プローブ・チップ | 2023年 4月 7日 | |
| 特許 7237457 | コンピューティング装置 | 2023年 3月13日 | |
| 特許 7237477 | 試験測定システム及びそのための方法 | 2023年 3月13日 | |
| 特許 7231977 | 試験プローブ及び試験プローブ・チップ | 2023年 3月 2日 | |
| 特許 7231992 | 試験測定プローブ | 2023年 3月 2日 |
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7402597 7364580 7357600 7292826 7291998 7292015 7253878 7237457 7237477 7231977 7231992
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