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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2026-159725	試験測定装置及び被試験デバイスの評価方法	2026年10月 7日
特開 2026-149483	試験測定システム及びそのための方法	2026年 9月25日
特開 2026-142570	試験測定装置、試験測定装置の健全性予測方法及び試験測定システム	2026年 9月 7日
特開 2026-102520	試験測定システム及び方法	2026年 6月23日
特表 2026-518589	スペクトルに基づくＮ－ＵＩジッタの分離及びモデリング方法	2026年 6月 9日
特開 2026-88077	試験測定装置及びこれにおける方法	2026年 5月28日
特開 2026-88069	リアルタイム・オシロスコープ及びシンボル・エラー・レート取得方法	2026年 5月28日
特開 2026-84691	試験測定装置、これに基づくデータ・パターン生成方法及びオシロスコープ	2026年 5月21日
特開 2026-84105	信号及び電力分析装置並びにシグナル・インテグリティ及びパワー・インテグリティ分析を行う方法	2026年 5月20日
特開 2026-76988	試験測定システム及び方法	2026年 5月12日
特開 2026-75056	試験測定システム及び信号生成方法	2026年 5月 7日
特開 2026-75054	試験測定システム及び方法	2026年 5月 7日
特表 2026-514158	アナログ・フロント・エンド統合型試験測定装置	2026年 5月 1日
特表 2026-513377	インタリーブ・デジタル・トリガ補正	2026年 4月23日
特表 2026-512753	パワー・デバイスのダイナミック抵抗を正確に測定するシステム及び方法	2026年 4月20日

26 件中 1-15 件を表示

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2026-159725 2026-149483 2026-142570 2026-102520 2026-518589 2026-88077 2026-88069 2026-84691 2026-84105 2026-76988 2026-75056 2026-75054 2026-514158 2026-513377 2026-512753

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