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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1035位 29件
（
2016年：第983位 28件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第842位 26件
（
2016年：第928位 24件）
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6250916 | ３次元ビデオの品質予測システム | 2017年12月20日 | |
| 特許 6239812 | 周波数スパン設定方法及び試験測定装置 | 2017年11月29日 | |
| 特許 6234657 | 電流データ・サンプル補正方法及び装置 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6226507 | 試験測定機器及びその動作方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6203471 | 試験測定機器及びその動作方法 | 2017年 9月27日 | |
| 特許 6203485 | 試験測定装置用信号取込み装置及び入力信号デジタル化方法 | 2017年 9月27日 | |
| 特許 6200635 | 広帯域バラン構体 | 2017年 9月20日 | |
| 特許 6178565 | 立体ビデオ時間的フレーム・オフセット測定システム及び方法 | 2017年 8月 9日 | |
| 特許 6174296 | インターリーブ・デジタイザ・チャネルの校正方法 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6168763 | 試験測定装置及び試験測定装置における方法 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6162921 | 信号発生装置及び発生方法 | 2017年 7月12日 | |
| 特許 6162924 | 画像処理方法及び装置 | 2017年 7月12日 | |
| 特許 6163288 | 主観的画像品質予測値生成方法、部分劣化測定方法、映像測定装置及び部分劣化測定装置 | 2017年 7月12日 | |
| 特許 6155503 | 同期サブパターン自動的識別方法及び試験測定機器 | 2017年 7月 5日 | |
| 特許 6151483 | 分散型取込み装置 | 2017年 6月21日 |
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6250916 6239812 6234657 6226507 6203471 6203485 6200635 6178565 6174296 6168763 6162921 6162924 6163288 6155503 6151483
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