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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-224049	電気光学試験コンポーネント、試験測定装置及び測定方法	2016年12月28日
特開 2016-218042	動作パラメータを校正するシステム及び方法	2016年12月22日
特開 2016-220197	映像ノイズ分析装置、残留ポイント・ノイズ検出方法及び欠陥画素検出方法	2016年12月22日
特開 2016-213834	クロック・リカバリ装置及び方法並びにクロック・リカバリ方法を実行するためのプログラム	2016年12月15日
特開 2016-206201	高調波時間インタリーブ・システム及び高調波時間インタリーブ方法	2016年12月 8日
特開 2016-194516	波形表示装置	2016年11月17日
特開 2016-194517	試験測定装置及び入力信号デジタル化方法	2016年11月17日
特開 2016-195534	ケーブル拘束システム	2016年11月17日
特開 2016-188851	ロック式折り畳み脚部	2016年11月 4日
特開 2016-144212	波形を求める方法並びに任意波形及び関数生成装置	2016年 8月 8日
特開 2016-126018	試験プローブ及び試験プローブ・チップ	2016年 7月11日
特開 2016-122003	欠陥検出回路及びフレキシブル・プローブ・チップ中の潜在的な欠陥検出方法	2016年 7月 7日
特開 2016-123073	アイ・ダイヤグラム中のマスクに関するビット・エラーを求めるシステム及び方法	2016年 7月 7日
特開 2016-118539	位相角度を求めるシステム及び方法	2016年 6月30日
特開 2016-114608	磁気固定式アセンブリ及び磁気固定式アセンブリ・システム	2016年 6月23日

28 件中 1-15 件を表示

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2016-224049 2016-218042 2016-220197 2016-213834 2016-206201 2016-194516 2016-194517 2016-195534 2016-188851 2016-144212 2016-126018 2016-122003 2016-123073 2016-118539 2016-114608

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