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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第2007位 11件
（
2020年：第2497位 8件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第2482位 6件
（
2020年：第2418位 6件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2021-190716 | 弱いラベル付けを使用した半導体試料内の欠陥の検出 | 2021年12月13日 | |
| 特開 2021-185499 | 多層構造体の層間のオーバレイを測定する技法 | 2021年12月 9日 | |
| 特表 2021-533354 | 電子検出のためのセンサ | 2021年12月 2日 | |
| 特表 2021-532562 | 物体の領域を評価するための方法 | 2021年11月25日 | |
| 特開 2021-182634 | 閉ループ自動欠陥検査および分類 | 2021年11月25日 | |
| 特開 2021-177541 | 試料の検査のためのアルゴリズムモジュールの自動選択 | 2021年11月11日 | |
| 特開 2021-173759 | オーバーレイモニタリング | 2021年11月 1日 | |
| 特開 2021-166284 | ３次元情報の決定 | 2021年10月14日 | |
| 特開 2021-140693 | 試験片上の欠陥検出の方法およびそのシステム | 2021年 9月16日 | |
| 特開 2021-141325 | 疑わしい欠陥の位置の決定 | 2021年 9月16日 | |
| 特開 2021-120673 | リソグラフィマスクの比較可能領域を生成するシステムおよび方法 | 2021年 8月19日 | |
| 特表 2021-508163 | マルチビーム荷電粒子検査装置のための信号分離器 | 2021年 2月25日 |
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2021-190716 2021-185499 2021-533354 2021-532562 2021-182634 2021-177541 2021-173759 2021-166284 2021-140693 2021-141325 2021-120673 2021-508163
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