アプライド　マテリアルズ　イスラエル　リミテッド

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　■　2023年出願公開件数ランキング　　　第1835位　12件（2022年：第1399位　17件）

　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第2186位　8件（2022年：第1898位　10件）

（ランキング更新日：2025年5月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-547856	ＦＩＢ斜め切削を使用した孔の傾斜角の測定	2023年11月14日
特開 2023-106295	試験体の構造要素の形状解析による試験体の製造プロセスの安定化	2023年 8月 1日
特表 2023-532928	平行スキャンＦＩＢを使用した隣り合う材料の均一ミリング	2023年 8月 1日
特表 2023-527297	試料の構造要素に関する３次元情報の生成	2023年 6月28日
特表 2023-522789	最適な焦束イオンビームエッチングのための適応形状寸法	2023年 5月31日
特表 2023-519517	半導体試料の試験	2023年 5月11日
特開 2023-64098	半導体試料製造のためのマスク検査	2023年 5月10日
特表 2023-514104	試料の試験のための欠陥位置の決定	2023年 4月 5日
特表 2023-513766	均一なデレイヤリングのための高エネルギーＳＥＭ下堆積を用いた空構造体の充填	2023年 4月 3日
特開 2023-41623	半導体試料製造のためのマスク検査	2023年 3月24日
特開 2023-36532	半導体試料における局所的形状偏差	2023年 3月14日
特開 2023-16759	半導体試料における側面凹部測定	2023年 2月 2日

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2023-547856 2023-106295 2023-532928 2023-527297 2023-522789 2023-519517 2023-64098 2023-514104 2023-513766 2023-41623 2023-36532 2023-16759

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