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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第3594位 5件
（
2023年：第1835位 12件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1617位 12件
（
2023年：第2186位 8件）
（ランキング更新日：2025年1月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-174868 | 標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置 | 2024年12月17日 | |
| 特表 2024-515821 | キャップバイアス電圧を使用した傾斜モードのＳＥＭによる後方散乱電子（ＢＳＥ）撮像 | 2024年 4月10日 | |
| 特表 2024-507705 | 透明基板を有するウエハ上に電子ビームを集束させる方法 | 2024年 2月21日 | |
| 特表 2024-507152 | 透明な基板を有する高分解能Ｘ線分光表面材料分析 | 2024年 2月16日 | |
| 特表 2024-500887 | 半導体試料の電気的特性の予測 | 2024年 1月10日 |
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2024-174868 2024-515821 2024-507705 2024-507152 2024-500887
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