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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド

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  2022年 出願公開件数ランキング    第1399位 17件 上昇2021年:第2007位 11件)

  2022年 特許取得件数ランキング    第1898位 10件 上昇2021年:第2482位 6件)

(ランキング更新日:2025年5月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2022-552896 アラインメント手段を有するマルチビーム荷電粒子源 2022年12月20日
特表 2022-552751 標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置 2022年12月19日
特開 2022-146937 半導体試料の調査のための画像生成 2022年10月 5日
特表 2022-542522 平坦な上面を有するミリングされた構造要素の生成 2022年10月 4日
特表 2022-535279 多層物体のミリング 2022年 8月 5日
特開 2022-91154 ウエハと静電チャックとの間の接触の評価 2022年 6月20日
特表 2022-522433 希少確率欠陥を検出するシステムおよび方法 2022年 4月19日
特開 2022-61001 半導体試料の3次元再構成 2022年 4月15日
特表 2022-516668 走査電子顕微鏡およびオーバーレイ監視方法 2022年 3月 1日
特開 2022-33027 ウエハ分析のための較正データを生成する方法およびシステム 2022年 2月25日
特開 2022-27473 半導体試料の検査に使用可能な訓練データの生成 2022年 2月10日
特表 2022-512292 半導体試料の欠陥の分類 2022年 2月 3日
特表 2022-511246 3D-NAND CDSEM計測学のための方法、システムおよびコンピュータプログラム製品 2022年 1月31日
特開 2022-14880 半導体試料中のアレイの識別 2022年 1月20日
特表 2022-508755 対物レンズ装置 2022年 1月19日

18 件中 1-15 件を表示

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2022-552896 2022-552751 2022-146937 2022-542522 2022-535279 2022-91154 2022-522433 2022-61001 2022-516668 2022-33027 2022-27473 2022-512292 2022-511246 2022-14880 2022-508755

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