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アプライド　マテリアルズ　イスラエル　リミテッド

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アプライド　マテリアルズ　イスラエル　リミテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-552896	アラインメント手段を有するマルチビーム荷電粒子源	2022年12月20日
特表 2022-552751	標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置	2022年12月19日
特開 2022-146937	半導体試料の調査のための画像生成	2022年10月 5日
特表 2022-542522	平坦な上面を有するミリングされた構造要素の生成	2022年10月 4日
特表 2022-535279	多層物体のミリング	2022年 8月 5日
特開 2022-91154	ウエハと静電チャックとの間の接触の評価	2022年 6月20日
特表 2022-522433	希少確率欠陥を検出するシステムおよび方法	2022年 4月19日
特開 2022-61001	半導体試料の３次元再構成	2022年 4月15日
特表 2022-516668	走査電子顕微鏡およびオーバーレイ監視方法	2022年 3月 1日
特開 2022-33027	ウエハ分析のための較正データを生成する方法およびシステム	2022年 2月25日
特開 2022-27473	半導体試料の検査に使用可能な訓練データの生成	2022年 2月10日
特表 2022-512292	半導体試料の欠陥の分類	2022年 2月 3日
特表 2022-511246	３Ｄ－ＮＡＮＤＣＤＳＥＭ計測学のための方法、システムおよびコンピュータプログラム製品	2022年 1月31日
特開 2022-14880	半導体試料中のアレイの識別	2022年 1月20日
特表 2022-508755	対物レンズ装置	2022年 1月19日

17 件中 1-15 件を表示

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2022-552896 2022-552751 2022-146937 2022-542522 2022-535279 2022-91154 2022-522433 2022-61001 2022-516668 2022-33027 2022-27473 2022-512292 2022-511246 2022-14880 2022-508755

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