ホーム > 特許ランキング > アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド > 2022年 > 出願公開一覧
アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
※ ログインすれば出願人(アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1399位 17件
（
2021年：第2007位 11件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1898位 10件
（2021年：第2482位 6件）
（ランキング更新日：2025年5月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年
アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2022-552896 | アラインメント手段を有するマルチビーム荷電粒子源 | 2022年12月20日 | |
| 特表 2022-552751 | 標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置 | 2022年12月19日 | |
| 特開 2022-146937 | 半導体試料の調査のための画像生成 | 2022年10月 5日 | |
| 特表 2022-542522 | 平坦な上面を有するミリングされた構造要素の生成 | 2022年10月 4日 | |
| 特表 2022-535279 | 多層物体のミリング | 2022年 8月 5日 | |
| 特開 2022-91154 | ウエハと静電チャックとの間の接触の評価 | 2022年 6月20日 | |
| 特表 2022-522433 | 希少確率欠陥を検出するシステムおよび方法 | 2022年 4月19日 | |
| 特開 2022-61001 | 半導体試料の３次元再構成 | 2022年 4月15日 | |
| 特表 2022-516668 | 走査電子顕微鏡およびオーバーレイ監視方法 | 2022年 3月 1日 | |
| 特開 2022-33027 | ウエハ分析のための較正データを生成する方法およびシステム | 2022年 2月25日 | |
| 特開 2022-27473 | 半導体試料の検査に使用可能な訓練データの生成 | 2022年 2月10日 | |
| 特表 2022-512292 | 半導体試料の欠陥の分類 | 2022年 2月 3日 | |
| 特表 2022-511246 | ３Ｄ－ＮＡＮＤ ＣＤＳＥＭ計測学のための方法、システムおよびコンピュータプログラム製品 | 2022年 1月31日 | |
| 特開 2022-14880 | 半導体試料中のアレイの識別 | 2022年 1月20日 | |
| 特表 2022-508755 | 対物レンズ装置 | 2022年 1月19日 |
18 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2022-552896 2022-552751 2022-146937 2022-542522 2022-535279 2022-91154 2022-522433 2022-61001 2022-516668 2022-33027 2022-27473 2022-512292 2022-511246 2022-14880 2022-508755
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階（旧横山ビル） http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールＳ 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒１６６－０００３ 東京都杉並区高円寺南２－５０－２ ＹＳビル３Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
