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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第13598位 0件
(2024年:第3594位 5件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第975位 6件
(2024年:第1617位 12件)
(ランキング更新日:2025年4月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7656445 | 疑わしい欠陥の位置の決定 | 2025年 4月 3日 | |
特許 7648410 | 3次元情報の決定 | 2025年 3月18日 | |
特許 7646458 | 半導体試料中のアレイの識別 | 2025年 3月17日 | |
特許 7636293 | 半導体試料の3次元再構成 | 2025年 2月26日 | |
特許 7633094 | 弱いラベル付けを使用した半導体試料内の欠陥の検出 | 2025年 2月19日 | |
特許 7612430 | リソグラフィマスクの比較可能領域を生成するシステムおよび方法 | 2025年 1月14日 |
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7656445 7648410 7646458 7636293 7633094 7612430
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4月14日(月) -
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4月15日(火) -
4月15日(火) - 大阪 大阪市
4月15日(火) -
4月16日(水) - 東京 大田
4月16日(水) -
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4月17日(木) - 東京 大田
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4月18日(金) -
4月18日(金) -
4月18日(金) - 北海道 千代田区
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4月22日(火) -
4月22日(火) -
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4月23日(水) -
4月23日(水) -
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4月23日(水) - 東京 千代田区
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月24日(木) - 東京 港区
4月24日(木) -
4月24日(木) -
4月25日(金) -
4月21日(月) -
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