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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1835位 12件
（
2022年：第1399位 17件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第2186位 8件
（2022年：第1898位 10件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7402061 | 試験片の調査の方法およびそのシステム | 2023年12月20日 | |
| 特許 7372486 | 平行スキャンＦＩＢを使用した隣り合う材料の均一ミリング | 2023年10月31日 | |
| 特許 7286290 | 半導体試料の欠陥を分類する方法およびそのシステム | 2023年 6月 5日 | |
| 特許 7277070 | 物体を走査するための方法およびシステム | 2023年 5月18日 | |
| 特許 7265592 | 多層構造体の層間のオーバレイを測定する技法 | 2023年 4月26日 | |
| 特許 7254921 | 半導体試料の欠陥の分類 | 2023年 4月10日 | |
| 特許 7219334 | ３Ｄ－ＮＡＮＤ ＣＤＳＥＭ計測学のための方法、システムおよびコンピュータプログラム製品 | 2023年 2月 7日 | |
| 特許 7218345 | 真空チャンバの清浄度を監視する清浄度モニタおよび方法 | 2023年 2月 6日 |
8 件中 1-8 件を表示
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7402061 7372486 7286290 7277070 7265592 7254921 7219334 7218345
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