特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2016年出願公開件数ランキング　　　第961位　28件（2015年：第1080位　24件）

　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第959位　23件（2015年：第500位　49件）

（ランキング更新日：2026年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-225519	半導体装置	2016年12月28日
特開 2016-207926	露光装置および露光方法	2016年12月 8日
特開 2016-207925	素子、製造方法、および露光装置	2016年12月 8日
特開 2016-164847	温度制御装置、温度制御方法、プログラム、記録媒体	2016年 9月 8日
特開 2016-161816	コンタクトレンズの試験装置及び試験方法	2016年 9月 5日
特開 2016-158927	コンタクトレンズの試験装置及び試験方法	2016年 9月 5日
再表 2014-45820	光測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2016年 8月18日
再表 2014-30491	光音響波測定器	2016年 7月28日
再表 2014-24699	パルス光源およびパルスレーザ光の位相差を安定に制御する方法	2016年 7月25日
特開 2016-122676	露光装置および露光方法	2016年 7月 7日
特開 2016-102747	測定装置	2016年 6月 2日
特開 2016-102746	電流測定回路および塩基配列解析装置	2016年 6月 2日
特開 2016-102748	電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ	2016年 6月 2日
特開 2016-102749	測定装置	2016年 6月 2日
特開 2016-102750	測定装置	2016年 6月 2日

28 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2016-225519 2016-207926 2016-207925 2016-164847 2016-161816 2016-158927 2014-45820 2014-30491 2014-24699 2016-122676 2016-102747 2016-102746 2016-102748 2016-102749 2016-102750

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数