特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2015年出願公開件数ランキング　　　第903位　31件（2014年：第557位　58件）

　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第500位　49件（2014年：第379位　97件）

（ランキング更新日：2024年11月11日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-215347	プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定	2015年12月 3日
特開 2015-207971	補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム	2015年11月19日
特開 2015-195085	プラズマ状態検出装置、その方法及びプログラム	2015年11月 5日
特開 2015-181795	測定装置、測定方法、および超音波測定装置	2015年10月22日
特開 2015-181796	測定装置、測定方法、および超音波診断装置	2015年10月22日
特開 2015-185528	ステージ装置および電子線装置	2015年10月22日
特開 2015-185529	ステージ装置および電子線装置	2015年10月22日
特開 2015-185847	デバイス保持器、インナーユニット、アウターユニット、およびトレイ	2015年10月22日
特開 2015-179821	検査用ウエハおよび試験システム	2015年10月 8日
特開 2015-173825	脂肪診断装置	2015年10月 5日
特開 2015-173828	脂肪診断装置	2015年10月 5日
特開 2015-169524	試験装置、キャリブレーションデバイス、キャリブレーション方法、および試験方法	2015年 9月28日
特開 2015-169645	試験装置および接続ユニット	2015年 9月28日
特開 2015-162513	荷電粒子ビーム露光装置及び半導体装置の製造方法	2015年 9月 7日
特開 2015-133400	電子ビーム露光装置	2015年 7月23日

35 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2015-215347 2015-207971 2015-195085 2015-181795 2015-181796 2015-185528 2015-185529 2015-185847 2015-179821 2015-173825 2015-173828 2015-169524 2015-169645 2015-162513 2015-133400

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数