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株式会社アドバンテスト

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1346位　21件（2016年：第782位　38件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第842位　26件（2016年：第959位　23件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-228577	化合物半導体装置の製造方法	2017年12月28日
特開 2017-228578	エピ基板	2017年12月28日
特表 2017-536147	電磁放射を用いた非侵襲性の原位置における血のグルコース値の検出	2017年12月 7日
特開 2017-204499	マルチカラム荷電粒子ビーム露光装置	2017年11月16日
特開 2017-182871	テストシステム、試験装置	2017年10月 5日
特開 2017-183989	ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置	2017年10月 5日
特開 2017-160469	異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜	2017年 9月14日
特開 2017-157585	半導体デバイスおよびその製造方法	2017年 9月 7日
特開 2017-139339	露光装置	2017年 8月10日
特開 2017-133993	磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置	2017年 8月 3日
特開 2017-134649	電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法	2017年 8月 3日
特開 2017-135218	荷電粒子ビームレンズ装置、荷電粒子ビームカラム、および荷電粒子ビーム露光装置	2017年 8月 3日
特開 2017-116477	デバイス測定用治具	2017年 6月29日
再表 2015-163298	電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体	2017年 4月20日
再表 2015-163299	電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体	2017年 4月20日

21 件中 1-15 件を表示

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2017-228577 2017-228578 2017-536147 2017-204499 2017-182871 2017-183989 2017-160469 2017-157585 2017-139339 2017-133993 2017-134649 2017-135218 2017-116477 2015-163298 2015-163299

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