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株式会社アドバンテスト
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1279位 19件
（
2016年：第961位 28件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第842位 26件
（
2016年：第959位 23件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-228578 | エピ基板 | 2017年12月28日 | |
| 特開 2017-228577 | 化合物半導体装置の製造方法 | 2017年12月28日 | |
| 特表 2017-536147 | 電磁放射を用いた非侵襲性の原位置における血のグルコース値の検出 | 2017年12月 7日 | |
| 特開 2017-204499 | マルチカラム荷電粒子ビーム露光装置 | 2017年11月16日 | |
| 特開 2017-183989 | ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-182871 | テストシステム、試験装置 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-160469 | 異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜 | 2017年 9月14日 | |
| 特開 2017-157585 | 半導体デバイスおよびその製造方法 | 2017年 9月 7日 | |
| 特開 2017-139339 | 露光装置 | 2017年 8月10日 | |
| 特開 2017-134649 | 電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法 | 2017年 8月 3日 | |
| 特開 2017-135218 | 荷電粒子ビームレンズ装置、荷電粒子ビームカラム、および荷電粒子ビーム露光装置 | 2017年 8月 3日 | |
| 特開 2017-133993 | 磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置 | 2017年 8月 3日 | |
| 特開 2017-116477 | デバイス測定用治具 | 2017年 6月29日 | |
| 再表 2015-163299 | 電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 2017年 4月20日 | |
| 再表 2015-163298 | 電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 2017年 4月20日 |
19 件中 1-15 件を表示
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2017-228578 2017-228577 2017-536147 2017-204499 2017-183989 2017-182871 2017-160469 2017-157585 2017-139339 2017-134649 2017-135218 2017-133993 2017-116477 2015-163299 2015-163298
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