特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1346位　21件（2016年：第782位　38件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第842位　26件（2016年：第959位　23件）

（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-228577	化合物半導体装置の製造方法	2017年12月28日
特開 2017-228578	エピ基板	2017年12月28日
特表 2017-536147	電磁放射を用いた非侵襲性の原位置における血のグルコース値の検出	2017年12月 7日
特開 2017-204499	マルチカラム荷電粒子ビーム露光装置	2017年11月16日
特開 2017-182871	テストシステム、試験装置	2017年10月 5日
特開 2017-183989	ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置	2017年10月 5日
特開 2017-160469	異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜	2017年 9月14日
特開 2017-157585	半導体デバイスおよびその製造方法	2017年 9月 7日
特開 2017-139339	露光装置	2017年 8月10日
特開 2017-133993	磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置	2017年 8月 3日
特開 2017-134649	電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法	2017年 8月 3日
特開 2017-135218	荷電粒子ビームレンズ装置、荷電粒子ビームカラム、および荷電粒子ビーム露光装置	2017年 8月 3日
特開 2017-116477	デバイス測定用治具	2017年 6月29日
再表 2015-163298	電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体	2017年 4月20日
再表 2015-163299	電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体	2017年 4月20日

21 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2017-228577 2017-228578 2017-536147 2017-204499 2017-182871 2017-183989 2017-160469 2017-157585 2017-139339 2017-133993 2017-134649 2017-135218 2017-116477 2015-163298 2015-163299

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数