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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1721位 13件
(
2017年:第1346位 21件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第1089位 18件
(
2017年:第842位 26件)
(ランキング更新日:2026年3月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-200305 | テストプログラムフロー制御 | 2018年12月20日 | |
| 特開 2018-194545 | テストシステム及び方法 | 2018年12月 6日 | |
| 特開 2018-189390 | 電子部品試験装置用のキャリア | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-189391 | 電子部品試験装置用のキャリア | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-189392 | 電子部品試験装置用のキャリア | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-189641 | ソフトウェアアプリケーションプログラミングインタフェース(API)を用いた自動テスト機能のユーザによる制御 | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-189645 | 異なるアプリケーションを用いる複数のユーザをサポートするテストシステム | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-112566 | 測定装置 | 2018年 7月19日 | |
| 特開 2018-110293 | デバイス測定用治具 | 2018年 7月12日 | |
| 特開 2018-82048 | 化合物半導体装置およびその製造方法 | 2018年 5月24日 | |
| 再表 2017-33235 | 接点装置および製造方法 | 2018年 5月10日 | |
| 特開 2018-41790 | 露光装置および露光データ構造 | 2018年 3月15日 | |
| 特開 2018-7821 | 磁場測定装置及び磁場測定方法 | 2018年 1月18日 |
13 件中 1-13 件を表示
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2018-200305 2018-194545 2018-189390 2018-189391 2018-189392 2018-189641 2018-189645 2018-112566 2018-110293 2018-82048 2017-33235 2018-41790 2018-7821
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