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株式会社アドバンテスト

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  2023年 出願公開件数ランキング    第549位 56件 上昇2022年:第793位 34件)

  2023年 特許取得件数ランキング    第478位 58件 上昇2022年:第767位 32件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2023-177687 ヒータ駆動制御装置、電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及び、ヒータ駆動制御方法 2023年12月14日
特開 2023-169689 光ビーム径測定装置、方法、プログラム、記録媒体 2023年11月30日
特開 2023-167499 キャリア、及び、テストトレイ 2023年11月24日
特開 2023-167818 電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 2023年11月24日
特開 2023-168161 電源を有する装置および試験ボード 2023年11月24日
特表 2023-547033 自動試験装置(ATE)を制御するための制御装置、ATE、ATEを制御するための方法、ATEを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム 2023年11月 9日
特開 2023-161931 試験方法および製造方法 2023年11月 8日
特開 2023-161949 試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置 2023年11月 8日
特開 2023-160163 電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 2023年11月 2日
特開 2023-159610 画像出力装置、方法、プログラム、記録媒体 2023年11月 1日
特開 2023-149981 温度調整装置、電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及びDUTの温度調整方法 2023年10月16日
特開 2023-136130 温度調整装置、電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 2023年 9月29日
特表 2023-537591 複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法 2023年 9月 4日
特表 2023-537030 測定システムの不正な変更からの保護 2023年 8月30日
特表 2023-537031 測定システムが正当な状態で使用されているかを判定する方法、測定システムが正当な状態で使用されているかの判定を支援する方法、これらの方法を実行するよう構成される測定システムおよびこれらの方法を実行するためのコンピュータプログラム 2023年 8月30日

57 件中 1-15 件を表示

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2023-177687 2023-169689 2023-167499 2023-167818 2023-168161 2023-547033 2023-161931 2023-161949 2023-160163 2023-159610 2023-149981 2023-136130 2023-537591 2023-537030 2023-537031

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