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株式会社アドバンテスト

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-177687	ヒータ駆動制御装置、電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及び、ヒータ駆動制御方法	2023年12月14日
特開 2023-169689	光ビーム径測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2023年11月30日
特開 2023-167499	キャリア、及び、テストトレイ	2023年11月24日
特開 2023-167818	電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置	2023年11月24日
特開 2023-168161	電源を有する装置および試験ボード	2023年11月24日
特表 2023-547033	自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム	2023年11月 9日
特開 2023-161931	試験方法および製造方法	2023年11月 8日
特開 2023-161949	試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置	2023年11月 8日
特開 2023-160163	電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置	2023年11月 2日
特開 2023-159610	画像出力装置、方法、プログラム、記録媒体	2023年11月 1日
特開 2023-149981	温度調整装置、電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及びＤＵＴの温度調整方法	2023年10月16日
特開 2023-136130	温度調整装置、電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置	2023年 9月29日
特表 2023-537591	複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法	2023年 9月 4日
特表 2023-537030	測定システムの不正な変更からの保護	2023年 8月30日
特表 2023-537031	測定システムが正当な状態で使用されているかを判定する方法、測定システムが正当な状態で使用されているかの判定を支援する方法、これらの方法を実行するよう構成される測定システムおよびこれらの方法を実行するためのコンピュータプログラム	2023年 8月30日

57 件中 1-15 件を表示

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2023-177687 2023-169689 2023-167499 2023-167818 2023-168161 2023-547033 2023-161931 2023-161949 2023-160163 2023-159610 2023-149981 2023-136130 2023-537591 2023-537030 2023-537031

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