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株式会社アドバンテスト
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第489位 25件
（
2024年：第694位 38件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第819位 11件
（
2024年：第720位 34件）
（ランキング更新日：2025年6月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2025-505334 | 統計的に有意な非類似度値を使用して、１つまたは複数の被試験デバイス、ＤＵＴの特性に関する情報を決定するための方法および装置 | 2025年 2月26日 | |
| 特開 2025-24551 | 温度測定装置、温度調整装置、電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 | 2025年 2月20日 | |
| 特開 2025-21921 | 相変化材料スイッチおよび製造方法 | 2025年 2月14日 | |
| 特開 2025-19453 | ハンドリング装置およびハンドリング方法 | 2025年 2月 7日 | |
| 特開 2025-19811 | バーンイン装置 | 2025年 2月 7日 | |
| 特開 2025-18023 | インダクタ | 2025年 2月 6日 | |
| 特開 2025-14693 | イメージセンサの試験システム | 2025年 1月30日 | |
| 特開 2025-10510 | 縮小ヘッダ信号情報試験システムおよび方法 | 2025年 1月21日 | |
| 特開 2025-8514 | 自動試験装置およびそのインタフェース装置 | 2025年 1月20日 | |
| 特開 2025-7857 | 微細流路デバイスおよび微粒子測定システム | 2025年 1月17日 |
25 件中 16-25 件を表示
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2025-505334 2025-24551 2025-21921 2025-19453 2025-19811 2025-18023 2025-14693 2025-10510 2025-8514 2025-7857
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