株式会社東京精密
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第277位 167件
（
2016年：第312位 124件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第340位 83件
（2016年：第372位 79件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6153452 | 目立て用工具 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6149337 | 表面形状測定装置 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6149338 | プローバ及びプローバの操作方法 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6145384 | ダイシング装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6145548 | 面取り研削方法及び面取り研削装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6141466 | ワーク識別装置及び識別方法 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6143684 | プローバ | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6144545 | ウエハ面取り装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6137544 | 真円度測定装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6137627 | 計測システム、タッチプローブ、及び受信ユニット | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138063 | ウェハ研磨装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6132748 | 切断用ブレード | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6133129 | 温度制御装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6128666 | 半導体基板の割断方法及び割断装置 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6119914 | 三次元座標測定装置 | 2017年 4月26日 |
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6153452 6149337 6149338 6145384 6145548 6141466 6143684 6144545 6137544 6137627 6138063 6132748 6133129 6128666 6119914
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