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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第46位 777件
(2017年:第89位 553件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第81位 363件
(2017年:第68位 420件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2018-26382 | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26383 | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26384 | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26385 | 発光ダイオードチップの製造方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26386 | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26387 | 発光ダイオードチップの製造方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26397 | デバイスウエーハの加工方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26398 | デバイスウエーハの加工方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26426 | ウェーハの加工方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26470 | ウエーハ生成方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26486 | 判定装置 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26673 | ウエーハの加工方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-20398 | 研削方法 | 2018年 2月 8日 | |
特開 2018-21760 | 厚み計測装置 | 2018年 2月 8日 | |
特開 2018-21761 | 計測装置 | 2018年 2月 8日 |
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2018-26382 2018-26383 2018-26384 2018-26385 2018-26386 2018-26387 2018-26397 2018-26398 2018-26426 2018-26470 2018-26486 2018-26673 2018-20398 2018-21760 2018-21761
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2月25日(火) -
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