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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第98位　350件（2010年：第95位　307件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-185715	検査装置及び検査方法	2011年 9月22日
特開 2011-187362	有機ＥＬ用蒸着マスククリーニング装置、有機ＥＬディスプレイの製造装置および有機ＥＬ用蒸着マスククリーニング方法	2011年 9月22日
特開 2011-187125	磁気ディスクの信号イレーズ装置	2011年 9月22日
特開 2011-187881	プラズマ処理装置および方法	2011年 9月22日
特開 2011-187902	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2011年 9月22日
特開 2011-187124	磁気ヘッド検査方法及び磁気ヘッド製造方法	2011年 9月22日
特開 2011-185900	検査方法およびその装置	2011年 9月22日
特開 2011-183249	蒸着マスクの洗浄装置	2011年 9月22日
特開 2011-187516	プラズマエッチング方法	2011年 9月22日
特開 2011-187192	電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法	2011年 9月22日
特開 2011-187191	回路パターン検査装置およびその検査方法	2011年 9月22日
特開 2011-187727	太陽電池モジュールの組立装置および組立方法	2011年 9月22日
特開 2011-180153	荷電粒子ビーム装置	2011年 9月15日
特開 2011-180159	パターン形状評価装置	2011年 9月15日
特開 2011-181119	検出回路および検査装置	2011年 9月15日

689 件中 166-180 件を表示

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2011-185715 2011-187362 2011-187125 2011-187881 2011-187902 2011-187124 2011-185900 2011-183249 2011-187516 2011-187192 2011-187191 2011-187727 2011-180153 2011-180159 2011-181119

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