ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2020年 > 出願公開一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2021年5月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2019-138725 | 複数のクロマトグラフを有する分析装置 | 2020年12月24日 | |
| 特開 2020-205698 | 搬送装置および搬送方法 | 2020年12月24日 | |
| 再表 2019-123604 | 荷電粒子線装置 | 2020年12月17日 | |
| 再表 2019-130906 | 検体処理システム | 2020年12月17日 | |
| 再表 2019-167129 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥観察装置 | 2020年12月17日 | |
| 再表 2019-176342 | 自動分析装置 | 2020年12月17日 | |
| 特開 2020-201167 | 搬送装置 | 2020年12月17日 | |
| 特開 2020-201172 | 自動分析装置 | 2020年12月17日 | |
| 再表 2019-130907 | 自動分析装置および分析方法 | 2020年12月10日 | |
| 特開 2020-198307 | 荷電粒子線装置 | 2020年12月10日 | |
| 特開 2020-198317 | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 | 2020年12月10日 | |
| 再表 2019-176296 | 自動分析装置 | 2020年12月 3日 | |
| 再表 2019-180903 | 走査電子顕微鏡及びその撮像方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-193838 | 光源および生化学分析装置 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-193979 | 自動分析装置 | 2020年12月 3日 |
227 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2019-138725 2020-205698 2019-123604 2019-130906 2019-167129 2019-176342 2020-201167 2020-201172 2019-130907 2020-198307 2020-198317 2019-176296 2019-180903 2020-193838 2020-193979
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
5月11日(火) -
5月12日(水) -
5月12日(水) -
5月13日(木) -
5月13日(木) -
5月14日(金) -
5月11日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒951-8152 新潟県新潟市中央区信濃町21番7号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所（東京都）－ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル５階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
