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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2025年1月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2016-143478 | 自動分析装置 | 2017年12月28日 | |
| 再表 2016-147714 | 点検デバイス | 2017年12月28日 | |
| 再表 2016-157403 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置のアライメント方法、アライメントプログラム、及び記憶媒体 | 2017年12月28日 | |
| 再表 2016-170663 | イオン液体を用いた試料の観察方法及び標本の生産方法 | 2017年12月28日 | |
| 再表 2016-190036 | プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法 | 2017年12月28日 | |
| 特開 2017-225448 | フィルタリング部材 | 2017年12月28日 | |
| 特開 2017-225519 | 採血装置および採血方法 | 2017年12月28日 | |
| 特開 2017-228626 | 真空処理装置およびその運転方法 | 2017年12月28日 | |
| 特開 2017-228787 | プラズマエッチング方法 | 2017年12月28日 | |
| 再表 2016-114151 | 質量分析装置 | 2017年12月21日 | |
| 再表 2016-121080 | イオンミリングのマスク位置調整方法、マスク位置を調整できる電子顕微鏡、試料ステージに搭載されるマスク調整装置、およびイオンミリング装置の試料マスク部品 | 2017年12月21日 | |
| 再表 2016-136464 | 分析装置およびその分析方法 | 2017年12月21日 | |
| 再表 2016-139997 | 自動分析装置 | 2017年12月21日 | |
| 再表 2016-140017 | 自動分析装置 | 2017年12月21日 | |
| 特開 2017-223695 | １本検体容器ホルダー | 2017年12月21日 |
386 件中 1-15 件を表示
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2016-143478 2016-147714 2016-157403 2016-170663 2016-190036 2017-225448 2017-225519 2017-228626 2017-228787 2016-114151 2016-121080 2016-136464 2016-139997 2016-140017 2017-223695
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