特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　　件（2010年：　件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　　件（2010年：　件）

（ランキング更新日：2026年10月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-258563	質量分析装置	2011年12月22日
特開 2011-257224	核酸分析デバイス、およびその製造方法	2011年12月22日
特開 2011-254806	釣菌装置および釣菌方法	2011年12月22日
特開 2011-257222	欠陥検査方法および欠陥検査装置	2011年12月22日
特開 2011-258576	荷電粒子線装置に用いられる標準試料，荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法	2011年12月22日
特開 2011-258573	荷電粒子線装置	2011年12月22日
特開 2011-257304	基板検査方法及び装置	2011年12月22日
特開 2011-257186	欠陥検査装置	2011年12月22日
特開 2011-257268	分光光度計	2011年12月22日
特開 2011-258615	プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法	2011年12月22日
特開 2011-254944	磁場解析方法、プログラムおよび磁場解析装置	2011年12月22日
特開 2011-257427	自動分析装置	2011年12月22日
特開 2011-258967	プラズマ処理装置	2011年12月22日
特開 2011-258614	プラズマ処理装置または試料載置台	2011年12月22日
特開 2011-257408	変位検出回路	2011年12月22日

689 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2011-258563 2011-257224 2011-254806 2011-257222 2011-258576 2011-258573 2011-257304 2011-257186 2011-257268 2011-258615 2011-254944 2011-257427 2011-258967 2011-258614 2011-257408

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数