ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2011年 > 出願公開一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2022年9月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-258563 | 質量分析装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257224 | 核酸分析デバイス、およびその製造方法 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-254806 | 釣菌装置および釣菌方法 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257222 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-258576 | 荷電粒子線装置に用いられる標準試料，荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-258573 | 荷電粒子線装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257304 | 基板検査方法及び装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257186 | 欠陥検査装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257268 | 分光光度計 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-258615 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-254944 | 磁場解析方法、プログラムおよび磁場解析装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257427 | 自動分析装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-258967 | プラズマ処理装置 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-258614 | プラズマ処理装置または試料載置台 | 2011年12月22日 | |
| 特開 2011-257408 | 変位検出回路 | 2011年12月22日 |
689 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-258563 2011-257224 2011-254806 2011-257222 2011-258576 2011-258573 2011-257304 2011-257186 2011-257268 2011-258615 2011-254944 2011-257427 2011-258967 2011-258614 2011-257408
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
10月1日(土) -
10月1日(土) -
10月4日(火) -
10月5日(水) -
10月5日(水) -
10月5日(水) -
10月6日(木) -
10月6日(木) - 大阪 大阪市
10月6日(木) -
10月7日(金) -
10月7日(金) -
10月7日(金) - 東京 港区
10月7日(金) -
10月8日(土) -
10月4日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒243-0021 神奈川県厚木市岡田３０５０ 厚木アクストメインタワー３階Ｂ－１ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県豊橋市西幸町字浜池３３３－９ 豊橋サイエンスコア１０９ 特許・実用新案 商標
東京都外神田４－１４－２ 東京タイムズタワー２７０３号室 特許・実用新案 鑑定
