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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2011-258563 質量分析装置 2011年12月22日
特開 2011-257224 核酸分析デバイス、およびその製造方法 2011年12月22日
特開 2011-254806 釣菌装置および釣菌方法 2011年12月22日
特開 2011-257222 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2011年12月22日
特開 2011-258576 荷電粒子線装置に用いられる標準試料,荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 2011年12月22日
特開 2011-258573 荷電粒子線装置 2011年12月22日
特開 2011-257304 基板検査方法及び装置 2011年12月22日
特開 2011-257186 欠陥検査装置 2011年12月22日
特開 2011-257268 分光光度計 2011年12月22日
特開 2011-258615 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 2011年12月22日
特開 2011-254944 磁場解析方法、プログラムおよび磁場解析装置 2011年12月22日
特開 2011-257427 自動分析装置 2011年12月22日
特開 2011-258967 プラズマ処理装置 2011年12月22日
特開 2011-258614 プラズマ処理装置または試料載置台 2011年12月22日
特開 2011-257408 変位検出回路 2011年12月22日

689 件中 1-15 件を表示

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2011-258563 2011-257224 2011-254806 2011-257222 2011-258576 2011-258573 2011-257304 2011-257186 2011-257268 2011-258615 2011-254944 2011-257427 2011-258967 2011-258614 2011-257408

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