ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2012年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
(2011年:第52位 689件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
(2011年:第98位 350件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-255826 | FPD実装装置および位置合わせ画像検出方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-255664 | 自動分析方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-254503 | 搬送ロボットシステム | 2012年12月27日 | |
特開 2012-255662 | 自動分析装置 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-256516 | ステージ装置およびステージ装置の制御方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-253069 | FPDモジュール組立装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251937 | 前処理装置及びそれを用いた自動分析装置 | 2012年12月20日 | |
再表 2011-7492 | 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた測定方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-252881 | 質量分析装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-252941 | 荷電粒子線装置及び試料作製方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-252913 | 電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-253303 | 微細構造転写用スタンパ及びこれを搭載した微細構造転写装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-253274 | 検査装置のデータ分配方法及び検査装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-251909 | 自動分析装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-252233 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のアライメント方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年12月20日 |
709 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-255826 2012-255664 2012-254503 2012-255662 2012-256516 2012-253069 2012-251937 2011-7492 2012-252881 2012-252941 2012-252913 2012-253303 2012-253274 2012-251909 2012-252233
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
大阪府大阪市北区西天満3丁目5-10 オフィスポート大阪801号 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
兵庫県西宮市高木西町18番5号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 コンサルティング