ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2012年 > 出願公開一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2022年7月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-255826 | ＦＰＤ実装装置および位置合わせ画像検出方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-255664 | 自動分析方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-254503 | 搬送ロボットシステム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-255662 | 自動分析装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256516 | ステージ装置およびステージ装置の制御方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-253069 | ＦＰＤモジュール組立装置 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-251937 | 前処理装置及びそれを用いた自動分析装置 | 2012年12月20日 | |
| 再表 2011-7492 | 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた測定方法 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-252881 | 質量分析装置 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-252941 | 荷電粒子線装置及び試料作製方法 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-252913 | 電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-253303 | 微細構造転写用スタンパ及びこれを搭載した微細構造転写装置 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-253274 | 検査装置のデータ分配方法及び検査装置 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-251909 | 自動分析装置 | 2012年12月20日 | |
| 特開 2012-252233 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のアライメント方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年12月20日 |
709 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-255826 2012-255664 2012-254503 2012-255662 2012-256516 2012-253069 2012-251937 2011-7492 2012-252881 2012-252941 2012-252913 2012-253303 2012-253274 2012-251909 2012-252233
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
7月5日(火) - 東京 品川区
7月5日(火) -
7月5日(火) -
7月5日(火) - 大阪 大阪市
7月6日(水) -
7月6日(水) - 東京 新宿区
7月6日(水) -
7月7日(木) -
7月8日(金) -
7月8日(金) -
7月8日(金) -
7月5日(火) - 東京 品川区
7月12日(火) -
7月12日(火) -
7月12日(火) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月15日(金) -
7月15日(金) -
7月15日(金) -
7月12日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒951-8152 新潟県新潟市中央区信濃町21番7号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー２１Ｆ・２２Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
