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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2021年 出願公開件数ランキング    第123位 66件 上昇2020年:第191位 225件)

  2021年 特許取得件数ランキング    第114位 45件 上昇2020年:第127位 223件)

(ランキング更新日:2021年3月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
再表 2019-151096 検体検査自動化システムおよび空検体キャリア管理方法 2021年 3月 4日
特開 2021-34163 荷電粒子ビームシステム、及び重ね合わせずれ量測定方法 2021年 3月 1日
特開 2021-34269 荷電粒子ビーム制御装置 2021年 3月 1日
再表 2019-186936 荷電粒子線装置 2021年 2月25日
再表 2019-186937 荷電粒子線装置 2021年 2月25日
再表 2019-186938 荷電粒子線装置 2021年 2月25日
特開 2021-28582 分光測定装置及び空間エネルギー分布測定装置 2021年 2月25日
特開 2021-28590 移動体情報解析装置および移動体情報解析方法 2021年 2月25日
特開 2021-25959 荷電粒子線装置 2021年 2月22日
特開 2021-25995 カンチレバーおよび走査プローブ顕微鏡ならびに走査プローブ顕微鏡による測定方法 2021年 2月22日
特開 2021-26926 画像生成方法、非一時的コンピューター可読媒体、及びシステム 2021年 2月22日
特開 2021-26942 走査電子顕微鏡及びパタン計測方法 2021年 2月22日
特開 2021-27189 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果デバイス 2021年 2月22日
特開 2021-27212 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 2021年 2月22日
特開 2021-27271 荷電粒子線装置および荷電粒子線検査システム 2021年 2月22日

66 件中 1-15 件を表示

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2019-151096 2021-34163 2021-34269 2019-186936 2019-186937 2019-186938 2021-28582 2021-28590 2021-25959 2021-25995 2021-26926 2021-26942 2021-27189 2021-27212 2021-27271

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