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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第123位 66件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第114位 45件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2021年3月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2019-151096 | 検体検査自動化システムおよび空検体キャリア管理方法 | 2021年 3月 4日 | |
| 特開 2021-34163 | 荷電粒子ビームシステム、及び重ね合わせずれ量測定方法 | 2021年 3月 1日 | |
| 特開 2021-34269 | 荷電粒子ビーム制御装置 | 2021年 3月 1日 | |
| 再表 2019-186936 | 荷電粒子線装置 | 2021年 2月25日 | |
| 再表 2019-186937 | 荷電粒子線装置 | 2021年 2月25日 | |
| 再表 2019-186938 | 荷電粒子線装置 | 2021年 2月25日 | |
| 特開 2021-28582 | 分光測定装置及び空間エネルギー分布測定装置 | 2021年 2月25日 | |
| 特開 2021-28590 | 移動体情報解析装置および移動体情報解析方法 | 2021年 2月25日 | |
| 特開 2021-25959 | 荷電粒子線装置 | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-25995 | カンチレバーおよび走査プローブ顕微鏡ならびに走査プローブ顕微鏡による測定方法 | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-26926 | 画像生成方法、非一時的コンピューター可読媒体、及びシステム | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-26942 | 走査電子顕微鏡及びパタン計測方法 | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-27189 | 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果デバイス | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-27212 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-27271 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線検査システム | 2021年 2月22日 |
66 件中 1-15 件を表示
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2019-151096 2021-34163 2021-34269 2019-186936 2019-186937 2019-186938 2021-28582 2021-28590 2021-25959 2021-25995 2021-26926 2021-26942 2021-27189 2021-27212 2021-27271
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