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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2011-237255 パターン形状検査装置及び検査方法並びにパターンドメディアディスク製造ライン 2011年11月24日
特開 2011-237277 核酸分析反応セルおよび核酸分析装置 2011年11月24日
特開 2011-237596 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2011年11月24日
再表 2009-154049 自動分析装置 2011年11月24日
特開 2011-234693 核酸検査装置 2011年11月24日
特開 2011-237683 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2011年11月24日
特開 2011-238630 ガス電界電離イオン源,走査荷電粒子顕微鏡 2011年11月24日
特開 2011-238400 走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡による試料検査方法 2011年11月24日
特開 2011-237384 分析用光学系及びその光学系を用いた分析装置 2011年11月24日
特開 2011-234639 核酸増幅装置及びそれを用いた核酸検査装置 2011年11月24日
特開 2011-234681 核酸配列解析装置に用いられる温度制御装置 2011年11月24日
特開 2011-237375 欠陥検査方法及びその装置 2011年11月24日
特開 2011-234671 核酸抽出装置 2011年11月24日
特開 2011-237684 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2011年11月24日
特開 2011-233721 真空処理装置及び真空処理方法 2011年11月17日

689 件中 61-75 件を表示

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2011-237255 2011-237277 2011-237596 2009-154049 2011-234693 2011-237683 2011-238630 2011-238400 2011-237384 2011-234639 2011-234681 2011-237375 2011-234671 2011-237684 2011-233721

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