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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第52位　689件（2010年：第70位　624件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第98位　350件（2010年：第95位　307件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
再表 2009-147894	イオンビーム装置	2011年10月27日
特開 2011-211905	生体ポリマーの特性解析方法、生体ポリマーの特性解析装置、及び生体ポリマーの特性解析チップ	2011年10月27日
特開 2011-216591	試料の搬送処理方法	2011年10月27日
再表 2009-147931	粒子画像解析方法および装置	2011年10月27日
特開 2011-211157	微細構造転写方法およびその装置	2011年10月20日
特開 2011-209353	ＦＰＤモジュールの組立装置	2011年10月20日
特開 2011-210509	電子ビーム照射方法、及び走査電子顕微鏡	2011年10月20日
特開 2011-210734	イオン捕集装置	2011年10月20日
特開 2011-210327	パターンドメディアの欠陥検査装置及びそれを用いたパターンドメディア用スタンパの検査方法	2011年10月20日
特開 2011-210928	プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板支持方法、及び表示用パネル基板の製造方法	2011年10月20日
特開 2011-211034	ＡＣＦ貼付装置及びＡＣＦ貼付方法	2011年10月20日
特開 2011-209148	表面検査装置及び表面検査方法	2011年10月20日
特開 2011-209087	欠陥検査装置，欠陥検査方法、および検査システム	2011年10月20日
特開 2011-211136	基板保持装置，基板保持方法、それらを用いた検査装置、及び検査方法	2011年10月20日
特開 2011-206720	ドライ完結型有機ＥＬ用マスククリーナ装置及びそのためのマスククリーニング方法	2011年10月20日

689 件中 121-135 件を表示

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2009-147894 2011-211905 2011-216591 2009-147931 2011-211157 2011-209353 2011-210509 2011-210734 2011-210327 2011-210928 2011-211034 2011-209148 2011-209087 2011-211136 2011-206720

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