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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2009-147894 | イオンビーム装置 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-211905 | 生体ポリマーの特性解析方法、生体ポリマーの特性解析装置、及び生体ポリマーの特性解析チップ | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-216591 | 試料の搬送処理方法 | 2011年10月27日 | |
| 再表 2009-147931 | 粒子画像解析方法および装置 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-211157 | 微細構造転写方法およびその装置 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-209353 | ＦＰＤモジュールの組立装置 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-210509 | 電子ビーム照射方法、及び走査電子顕微鏡 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-210734 | イオン捕集装置 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-210327 | パターンドメディアの欠陥検査装置及びそれを用いたパターンドメディア用スタンパの検査方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-210928 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板支持方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-211034 | ＡＣＦ貼付装置及びＡＣＦ貼付方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-209148 | 表面検査装置及び表面検査方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-209087 | 欠陥検査装置，欠陥検査方法、および検査システム | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-211136 | 基板保持装置，基板保持方法、それらを用いた検査装置、及び検査方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-206720 | ドライ完結型有機ＥＬ用マスククリーナ装置及びそのためのマスククリーニング方法 | 2011年10月20日 |
689 件中 121-135 件を表示
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2009-147894 2011-211905 2011-216591 2009-147931 2011-211157 2011-209353 2011-210509 2011-210734 2011-210327 2011-210928 2011-211034 2011-209148 2011-209087 2011-211136 2011-206720
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