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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1015位 27件 (2010年:第701位 53件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第545位 58件 (2010年:第1012位 22件)
(ランキング更新日:2025年2月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 4798441 | ウェーハ搬送方法及びウェーハ搬送ユニット | 2011年10月19日 | |
特許 4789629 | 半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置 | 2011年10月12日 | |
特許 4789630 | 半導体製造装置、半導体外観検査装置、及び外観検査方法 | 2011年10月12日 | |
特許 4789734 | ウエハ載置台 | 2011年10月12日 | |
特許 4777072 | ダイシング装置 | 2011年 9月21日 | |
特許 4776308 | 画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 | 2011年 9月21日 | |
特許 4766897 | 画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 | 2011年 9月 7日 | |
特許 4766797 | プローバのステージ構造 | 2011年 9月 7日 | |
特許 4767122 | テープの貼り替え方法及び該テープの貼り替え方法を使用した基板の分割方法 | 2011年 9月 7日 | |
特許 4761207 | ウェーハ収納方法 | 2011年 8月31日 | |
特許 4758457 | ウェーハ面取り装置 | 2011年 8月31日 | |
特許 4761088 | ダイシング装置及びダイシング方法 | 2011年 8月31日 | |
特許 4753497 | 表面形状測定装置及び方法 | 2011年 8月24日 | |
特許 4756583 | 研磨パッド、パッドドレッシング評価方法、及び研磨装置 | 2011年 8月24日 | |
特許 4753657 | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | 2011年 8月24日 |
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4798441 4789629 4789630 4789734 4777072 4776308 4766897 4766797 4767122 4761207 4758457 4761088 4753497 4756583 4753657
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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