特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第199位　212件（2010年：第235位　206件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第170位　211件（2010年：第155位　204件）

（ランキング更新日：2025年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
再表 2009-147722	試験用ウエハ、試験システム、および、半導体ウエハ	2011年10月20日
再表 2009-147721	試験用ウエハユニット、および、試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147724	試験用ウエハユニットおよび試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147786	試験装置および試験方法	2011年10月20日
再表 2009-147797	試験装置、伝送回路、試験装置の制御方法および伝送回路の制御方法	2011年10月20日
再表 2009-147717	プローブウエハ、プローブ装置および試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147804	プローブ装置製造方法	2011年10月20日
再表 2009-147723	試験システムおよび試験用基板ユニット	2011年10月20日
特開 2011-211895	ワイヤレス給電装置、ワイヤレス受電装置およびワイヤレス給電システム、ワイヤレス給電方法	2011年10月20日
再表 2009-147719	試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147810	試験システム、電子デバイス、および、試験装置	2011年10月20日
再表 2009-147720	半導体ウエハ、半導体回路、試験用基板、および、試験システム	2011年10月20日
特開 2011-205170	フィルタ生成装置、プログラムおよびフィルタ生成方法	2011年10月13日
特開 2011-199772	変調装置、設定方法および試験装置	2011年10月 6日
特表 2011-526357	電子部品の温度制御装置	2011年10月 6日

212 件中 46-60 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2009-147722 2009-147721 2009-147724 2009-147786 2009-147797 2009-147717 2009-147804 2009-147723 2011-211895 2009-147719 2009-147810 2009-147720 2011-205170 2011-199772 2011-526357

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数