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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
(2010年:第235位 206件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
(2010年:第155位 204件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2011-526357 | 電子部品の温度制御装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-196720 | 検出装置、測定装置、および検出方法 | 2011年10月 6日 | |
再表 2009-144948 | 試験用ユニットおよび試験システム | 2011年10月 6日 | |
再表 2009-141906 | 試験用ウエハユニットおよび試験システム | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-141907 | 試験用ウエハユニットおよび試験システム | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-191104 | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 | 2011年 9月29日 | 共同出願 |
再表 2009-141904 | パレット | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144844 | 試験装置および試験方法 | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144843 | 通信システム、試験装置および試験方法 | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144842 | 試験装置、試験方法およびシステム | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144839 | 試験装置および情報処理システム | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144838 | 試験装置、情報処理システムおよびデータ伝送方法 | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144834 | 試験装置および送信装置 | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144806 | 試験用基板製造装置、試験用基板製造方法、および、プログラム | 2011年 9月29日 | |
再表 2009-144791 | 試験システムおよび書込用ウエハ | 2011年 9月29日 |
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2011-526357 2011-196720 2009-144948 2009-141906 2009-141907 2011-191104 2009-141904 2009-144844 2009-144843 2009-144842 2009-144839 2009-144838 2009-144834 2009-144806 2009-144791
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