特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第199位　212件（2010年：第235位　206件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第170位　211件（2010年：第155位　204件）

（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
再表 2009-144843	通信システム、試験装置および試験方法	2011年 9月29日
再表 2009-141849	パターン発生器	2011年 9月22日
特開 2011-187638	レーザ光パルスの位相制御装置	2011年 9月22日
再表 2009-141848	パターン発生器およびそれを用いたメモリの試験装置	2011年 9月22日
特開 2011-188436	測定装置、測定方法およびプログラム	2011年 9月22日
再表 2009-139070	製造方法および試験用ウエハユニット	2011年 9月15日
特開 2011-181691	パルスレーザ、光周波数安定化レーザ、測定装置および測定方法	2011年 9月15日	共同出願
再表 2009-136441	電子線描画装置及び電子線描画方法	2011年 9月 1日
再表 2009-136427	デジタル変調信号の試験装置、ならびにデジタル変調器、変調方法およびそれを用いた半導体装置	2011年 9月 1日
特開 2011-172208	出力装置および試験装置	2011年 9月 1日
特開 2011-169594	マルチストローブ回路およびそのキャリブレーション方法および試験装置	2011年 9月 1日
再表 2009-136428	デジタル変調信号の試験装置および試験方法	2011年 9月 1日
特開 2011-163807	電子部品試験装置	2011年 8月25日
特開 2011-164039	信号発生器およびそれを用いた試験装置	2011年 8月25日
特開 2011-165960	テストヘッド及びそれを備えた半導体ウェハ試験装置	2011年 8月25日

212 件中 76-90 件を表示

... 6

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2009-144843 2009-141849 2011-187638 2009-141848 2011-188436 2009-139070 2011-181691 2009-136441 2009-136427 2011-172208 2011-169594 2009-136428 2011-163807 2011-164039 2011-165960

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数