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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2009-144843 | 通信システム、試験装置および試験方法 | 2011年 9月29日 | |
| 再表 2009-141849 | パターン発生器 | 2011年 9月22日 | |
| 特開 2011-187638 | レーザ光パルスの位相制御装置 | 2011年 9月22日 | |
| 再表 2009-141848 | パターン発生器およびそれを用いたメモリの試験装置 | 2011年 9月22日 | |
| 特開 2011-188436 | 測定装置、測定方法およびプログラム | 2011年 9月22日 | |
| 再表 2009-139070 | 製造方法および試験用ウエハユニット | 2011年 9月15日 | |
| 特開 2011-181691 | パルスレーザ、光周波数安定化レーザ、測定装置および測定方法 | 2011年 9月15日 | 共同出願 |
| 再表 2009-136441 | 電子線描画装置及び電子線描画方法 | 2011年 9月 1日 | |
| 再表 2009-136427 | デジタル変調信号の試験装置、ならびにデジタル変調器、変調方法およびそれを用いた半導体装置 | 2011年 9月 1日 | |
| 特開 2011-172208 | 出力装置および試験装置 | 2011年 9月 1日 | |
| 特開 2011-169594 | マルチストローブ回路およびそのキャリブレーション方法および試験装置 | 2011年 9月 1日 | |
| 再表 2009-136428 | デジタル変調信号の試験装置および試験方法 | 2011年 9月 1日 | |
| 特開 2011-163807 | 電子部品試験装置 | 2011年 8月25日 | |
| 特開 2011-164039 | 信号発生器およびそれを用いた試験装置 | 2011年 8月25日 | |
| 特開 2011-165960 | テストヘッド及びそれを備えた半導体ウェハ試験装置 | 2011年 8月25日 |
212 件中 76-90 件を表示
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2009-144843 2009-141849 2011-187638 2009-141848 2011-188436 2009-139070 2011-181691 2009-136441 2009-136427 2011-172208 2011-169594 2009-136428 2011-163807 2011-164039 2011-165960
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