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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-163807 | 電子部品試験装置 | 2011年 8月25日 | |
| 特開 2011-164604 | 基板構造体および製造方法 | 2011年 8月25日 | |
| 特開 2011-154027 | 試験装置および試験方法 | 2011年 8月11日 | |
| 特開 2011-154026 | 試験装置および試験方法 | 2011年 8月11日 | |
| 特開 2011-154009 | 試験装置、測定装置および電子デバイス | 2011年 8月11日 | |
| 特開 2011-154025 | 試験装置および試験モジュール | 2011年 8月11日 | |
| 特開 2011-154023 | 試験装置および試験方法 | 2011年 8月11日 | |
| 再表 2009-130794 | 試験システムおよびプローブ装置 | 2011年 8月11日 | |
| 特開 2011-154033 | 被測定デバイス搭載ボード、及びデバイスインタフェース部 | 2011年 8月11日 | |
| 再表 2009-128114 | 半導体試験装置および試験方法 | 2011年 8月 4日 | |
| 再表 2009-128160 | 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置 | 2011年 8月 4日 | |
| 再表 2009-122700 | 試験装置および試験方法 | 2011年 7月28日 | |
| 再表 2009-122699 | 試験モジュール、試験装置および試験方法 | 2011年 7月28日 | |
| 特開 2011-146484 | コンタクト装置及び回路パッケージ | 2011年 7月28日 | |
| 特開 2011-147117 | ＡＤ変換装置および制御方法 | 2011年 7月28日 |
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2011-163807 2011-164604 2011-154027 2011-154026 2011-154009 2011-154025 2011-154023 2009-130794 2011-154033 2009-128114 2009-128160 2009-122700 2009-122699 2011-146484 2011-147117
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